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Wir haben die Grundlagen der Bestimmung der Messunsicherheit nach vielen Praxisjahren neu erarbeitet. Unsere erste Auflage ist nun um viele neue Aspekte und Schwerpunkte ergänzt worden.
Anwender, Entwickler von metrologischen Verfahren, Begutachter, technisches Leitungspersonal von Kalibrier- und Prüflaboratorien
"Man misst eigentlich immer falsch. Man muss nur wissen wieviel."
Dieses Buch beschäftigt sich mit dem "wieviel" in obiger Aussage vom Messtechnik-Pionier Dave Packard. Es schildert die Grundlagen, welche seit dem Wechsel der Paradigmen in die Metrologie Einzug gehalten haben. Das Buch zeigt anhand vieler Beispiele die Anwendung der Verfahren. Ein ausführliches Glossar rundet das Buch ab.
Zweite, vollständig neu erstellte Ausgabe
Bedeutung, Einflüsse, Messunsicherheitsanalyse, Prozessgleichung, Modellgleichung, Verteilungen, Gewichtungsfaktoren, Faltungen, Empfindlichkeitskoeffizienten, Korrelation, Kovarianz, Freiheitsgrad, Bilanzen (Budgets), Segmente, Ergebnisse dokumentieren, Kalibrierscheine, Überdeckung, Spezifikationen, Optimierungen, Ergebnisanalyse, Konformitätsaussagen, Bereichskalibrierungen, Beispiele, Normalized Error Ratio, Evaluierung, Transfers, Definitionen, Glossar
Hardcover
544 Seiten
ISBN-13: 9783753490175
Verlag: Books on Demand
Erscheinungsdatum (zweite überarbeitete Auflage): 09.05.2021
Sprache: Deutsch
Farbe: Nein
Buch: 58,90 €
eBook: 24,99 €
© 2024: Pesch Consult - Bernd Pesch
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